A METHOD FOR DEMONSTRATION OF ALKALINE-PHOSPHATASE ACTIVITY ON BACKSCATTERED ELECTRON IMAGE (BEI) OF SEM IN SEMI-THIN SECTIONS FOR LIGHT-MICROSCOPY

被引：0
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作者：
NAGATO, Y
KUSHIDA, H
ONO, A
OGURA, K
机构：
[1] TOKAI UNIV,SCH MED,DEPT ANAT,ISEHARA,KANAGAWA 25911,JAPAN
[2] KEIO UNIV,ELECTRON MICROSCOPY LAB,TOKYO 160,JAPAN
[3] JEOL LTD,TOKYO 196,JAPAN
来源：
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1983年 / 32卷 / 03期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
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