SEE data from the APEX cosmic ray upset experiment: Predicting the performance of commercial devices in space

被引：0

作者：

Adolphsen, J ^{[1
]}

Barth, JL ^{[1
]}

Stassinopoulos, EG ^{[1
]}

Gruner, T ^{[1
]}

Wennersten, M ^{[1
]}

LaBel, KA ^{[1
]}

Seidleck, CM ^{[1
]}

机构：

[1] UNISYS,LANHAM,MD 20706

来源：

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：572 / 580

页数：9