A minimal universal test set for self-test of EXOR-Sum-of-Products circuits (vol 49, pg 267, 2000)

被引：0
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作者：
Kalay, U
Perkowski, MA
Hall, DV
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS | 2000年 / 49卷 / 05期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
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页码：525 / 525
页数：1
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