Elasticity to Atomistics: Predictive Modeling of Defect Behavior Symposium within MMM4 (October 2008) Dedicated to David Bacon PREFACE

被引：0

作者：

Osetsky, Yuri ^{[1
]}

Scattergood, Ron ^{[2
]}

Serra, Anna ^{[3
]}

Stoller, Roger ^{[1
]}

机构：

[1] Oak Ridge Natl Lab, Oak Ridge, TN 37831 USA

[2] N Carolina State Univ, Raleigh, NC 27695 USA

[3] Tech Univ Catalonia, Barcelona, Spain

来源：

关键词：

D O I：

10.1080/14786430903236040

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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