Special issue: Design and test of systems on a chip - Guest editorial

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作者
Bolchini, C
Meyer, FJ
机构
关键词
D O I
10.1016/j.sysarc.2003.10.001
中图分类号
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号
0812 ;
摘要
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页码:237 / 238
页数:2
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