Comparison between Focused Electron/Ion Beam-Induced Deposition at Room Temperature and under Cryogenic Conditions (vol 10, 799, 2019)

被引：0

作者：

De Teresa, Jose Maria ^{[1
,2
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Orus, Pablo ^{[1
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]}

Cordoba, Rosa ^{[4
]}

Philipp, Patrick ^{[5
]}

机构：

[1] Univ Zaragoza, CSIC, ICMA, Calle Pedro Cerbuna 12, E-50009 Zaragoza, Spain

[2] Univ Zaragoza, Fac Ciencias, Dept Fis Mat Condensada, Calle Pedro Cerbuna 12, E-50009 Zaragoza, Spain

[3] INA, LMA, Edificio I D,Campus Rio Ebro, Zaragoza 50018, Spain

[4] Univ Valencia, Inst Ciencia Mol, Catedratico Jose Beltran 2, Paterna 46980, Spain

[5] LIST, AINA, MRT Dept, 41 Rue Brill, L-4422 Belvaux, Luxembourg

来源：

关键词：

D O I：

10.3390/mi11020211

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

页数：1

共 22 条