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Would I lie to you? Lie detection in schizophrenia
被引:0
|作者:
Russell, TA
Ekman, P
Phillips, ML
机构:
[1] Inst Psychiat, Sect Neurosci & Emot, London, England
[2] Univ Calif San Francisco, San Francisco, CA 94143 USA
关键词:
D O I:
暂无
中图分类号:
R749 [精神病学];
学科分类号:
100205 ;
摘要:
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页数:2
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