Comprehensive review of microwave system requirements on thin-film ferroelectrics

被引:0
|
作者
Korn, David S. [1 ,3 ]
Wu, Huey-Daw [2 ,3 ]
机构
[1] TASC, Inc., 4801 Stonecroft Blvd, Chantilly, VA 20151, United States
[2] SFA Inc., 1401 McCormick Drive, Largo, MD 20774, United States
[3] Naval Research Laboratory, Washington, DC 20375, United States
来源
Integrated Ferroelectrics | 1999年 / 24卷 / 01期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
学科分类号
摘要
引用
收藏
页码:215 / 237
相关论文
共 50 条