A STUDY OF THE DEEP ELECTRON TRAPS IN SEMICONDUCTING CdS.

被引:0
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作者
Grill, C. [1 ]
Bastide, G. [1 ]
Sagnes, G. [1 ]
Rouzeyre, M. [1 ]
机构
[1] Centre d'Etudes d'Electronique des Solides, Associé au C.N.R.S. U.S.T.L., 34060, Montpellier, Cedex, France
来源
| 1600年 / 50期
关键词
D O I
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