Approximate method for calculating thickness of metal multilayer interface

被引:0
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作者
Feng, Shimeng [1 ]
Yi, Kui [1 ]
Shao, Jianda [1 ]
Fan, Zhengxiu [1 ]
机构
[1] Shanghai Inst of Optics and Fine, Mechanics, Chinese Acad of Sciences, Shanghai, China
来源
Guangxue Xuebao/Acta Optica Sinica | 2000年 / 20卷 / 09期
关键词
Interface thickness - Transfer layer;
D O I
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摘要
(Edited Abstract)
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页码:1208 / 1212
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