Development of technical trend analysis using data envelopment analysis

被引:0
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作者
Yagi, Toshiro [1 ]
Nakayama, Hirotaka [1 ]
Arakwa, Masao [1 ]
机构
[1] NEC System Technologies Ltd., 3, Misakemachi 1-chome, Matsuyama, Ehime 790-8595, Japan
关键词
Compendex;
D O I
暂无
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学科分类号
摘要
Data envelopment analysis
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页码:2120 / 2129
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