A test set compression algorithm based on Variable-Run-Length code

被引:0
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作者
Department of Automatic Test and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China [1 ]
机构
来源
Tien Tzu Hsueh Pao | 2007年 / 2卷 / 197-201期
关键词
11;
D O I
暂无
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学科分类号
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