Staebler-Wronski-like formation of defects at the amorphous-silicon- crystalline silicon interface during illumination

被引:0
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作者
Plagwitz, Heiko [1 ]
Terheiden, Barbara [1 ]
Brendel, Rolf [1 ]
机构
[1] Institut für Solarenergieforschung Hameln/Emmerthal (ISFH), Am Ohrberg 1, D-31860 Emmerthal, Germany
来源
Journal of Applied Physics | 2008年 / 103卷 / 09期
关键词
D O I
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摘要
Journal article (JA)
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