Hypothesis testing with the general source

被引：22
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作者：
机构：
[1] Han, Te Sun
来源：
Han, Te Sun | 2000年 / IEEE, Piscataway, NJ, United States卷 / 46期
关键词：
D O I：
10.1109/18.887854
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
20
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