GEOMETRICAL CORRECTION FACTOR FOR SEMICONDUCTOR RESISTIVITY MEASUREMENTS BY 4-POINT PROBE METHOD

被引:68
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作者
YAMASHITA, M
AGU, M
机构
关键词
D O I
10.1143/JJAP.23.1499
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:1499 / 1504
页数:6
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