A DIRECT METHOD OF DETERMINING PREFERRED ORIENTATION OF A FLAT REFLECTION SAMPLE USING A GEIGER COUNTER X-RAY SPECTROMETER

被引:860
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作者
SCHULZ, LG
机构
关键词
D O I
10.1063/1.1698268
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页数:3
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