ULTRAHIGH-RESOLUTION SPECTROSCOPY AND FREQUENCY STANDARDS IN THE MICROWAVE AND FAR-INFRARED REGIONS USING OPTICAL LASERS

被引:47
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作者
THOMAS, JE
EZEKIEL, S
LEIBY, CC
PICARD, RH
WILLIS, CR
机构
关键词
D O I
10.1364/OL.6.000298
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
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页数:3
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