DEGRADATION MECHANISMS AND RELIABILITY ESTIMATIONS OF CDS-CDSE PHOTOCONDUCTIVE CELLS

被引：0
|
作者：
MIYAKE, T
机构：
来源：
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1972年 / 11卷 / 03期
关键词：
D O I：
10.1143/JJAP.11.372
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
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页码：372 / &
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