X-RAY SINGLE STRUCTURAL-ANALYSIS OF 4 CEPHEM DERIVATIVES

被引:0
|
作者
KOBELT, D [1 ]
PAULUS, EF [1 ]
机构
[1] FARBWERKE HOECHST AG,FRANKFURT,WEST GERMANY
来源
ZEITSCHRIFT FUR KRISTALLOGRAPHIE | 1973年 / 137卷 / 5-6期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
O7 [晶体学];
学科分类号
0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;
摘要
引用
收藏
页码:453 / 454
页数:2
相关论文
共 50 条