MEASUREMENT OF THE SCATTERING FACTOR PHASE AND THE SPHERICAL AND ASTIGMATIC ABERRATION CONSTANTS FROM DIFFRACTOGRAMS OF ELECTRON-MICROGRAPHS

被引:14
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作者
KANAYA, K
KIHARA, H
ISHIGAKI, F
机构
关键词
D O I
10.1016/0047-7206(81)90039-X
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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页数:17
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