RADIATION-DAMAGE EFFECTS IN GAAS TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY SPECIMENS PREPARED BY ION MILLING

被引:12
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作者
IVEY, DG
PIERCY, GR
机构
关键词
D O I
10.1016/0040-6090(87)90250-1
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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