ELECTRON-DENSITY MEASUREMENT BY DEFLECTION OF A FAR-INFRARED BEAM

被引：3
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作者：
KEREN, H
HIRSHFIELD, JL
机构：
来源：
APPLIED PHYSICS LETTERS | 1980年 / 36卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1063/1.91404
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
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页数：3
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