FORMATION OF BACKSCATTERED ELECTRON CONTRAST FROM BALK MICROINHOMOGENEITIES IN SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引:0
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作者
ZAITSEV, SI
SAMSONOVICH, AV
机构
来源
关键词
D O I
暂无
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
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页数:6
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