A TOPOLOGICAL APPROACH TO FAULT-DIAGNOSIS IN ANALOG CIRCUITS

被引:0
|
作者
GAO, XC
LEACH, DP
CHAN, SP
机构
关键词
D O I
10.1080/00207218608920815
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:545 / 560
页数:16
相关论文
共 50 条