CEPAMAT MP 210 - SYSTEM FOR MEASURING CHARACTERISTIC VALUES OF PAPER WEBS ON PAPER MACHINES

被引:0
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作者
ECKERT, W [1 ]
HACKEL, I [1 ]
机构
[1] SIEMENS AG,SYSTEMTECH ENTWICKLUNG,D-8520 ERLANGEN,FED REP GER
来源
SIEMENS ZEITSCHRIFT | 1977年 / 51卷 / 05期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:381 / 386
页数:6
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