NON-LINEAR IMPURITY SCREENING IN SEMICONDUCTORS

被引:62
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作者
CORNOLTI, F [1 ]
RESTA, R [1 ]
机构
[1] UNIV PISA, IST FIS, I-56100 PISA, ITALY
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1978年 / 17卷 / 08期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.17.3239
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:3239 / 3242
页数:4
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