THE RELIABILITY OF MAGNETRONS FOR MICROWAVE-OVENS

被引：0
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作者：
KITAGAWA, K
KANUMA, Y
OGURO, T
HARADA, A
机构：
[1] Science Univ of Tokyo, Noda, Jpn, Science Univ of Tokyo, Noda, Jpn
来源：
JOURNAL OF MICROWAVE POWER AND ELECTROMAGNETIC ENERGY | 1986年 / 21卷 / 03期
关键词：
FAILURE MODE-EFFECT ANALYSIS (FMEA) - FAULT TREE ANALYSIS - MICROWAVE OVENS;
D O I：
10.1080/08327823.1986.11687989
中图分类号：
TQ [化学工业];
学科分类号：
0817 ;
摘要：
(Edited Abstract)
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页码：149 / 158
页数：10
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