ELECTRICAL-PROPERTIES AND CONDUCTION MECHANISMS OF RUBASED THICK-FILM (CERMET) RESISTORS

被引：241
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作者：
PIKE, GE
SEAGER, CH
机构：
来源：
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1977年 / 48卷 / 12期
关键词：
D O I：
10.1063/1.323595
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
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页码：5152 / 5169
页数：18
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