A METHOD OF DETERMINING THE LIFETIME AND DIFFUSION-COEFFICIENT OF MINORITY-CARRIERS IN A SEMICONDUCTOR WAFER

被引：13
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作者：
SUZUKI, E
HAYASHI, Y
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1989年 / 36卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1109/16.24361
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：1150 / 1154
页数：5
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