ELECTRON-DIFFRACTION DETERMINATION OF STRUCTURE OF THIN-FILMS INTLS2

被引:0
|
作者
AGAEV, KA [1 ]
GASYMOV, VA [1 ]
CHIRAGOV, MI [1 ]
机构
[1] ACAD SCI AZSSR,INORG & PHYS CHEM INST,BAKU,AZSSR
来源
KRISTALLOGRAFIYA | 1973年 / 18卷 / 02期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
O7 [晶体学];
学科分类号
0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;
摘要
引用
收藏
页码:366 / 368
页数:3
相关论文
共 50 条