SOME STRESS-STRENGTH RELIABILITY MODELS

被引：8
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作者：
CHUNG, WK
机构：
来源：
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1982年 / 22卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1016/0026-2714(82)90184-6
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：277 / 280
页数：4
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