SOME STRESS-STRENGTH RELIABILITY MODELS

被引:8
|
作者
CHUNG, WK
机构
来源
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1982年 / 22卷 / 02期
关键词
D O I
10.1016/0026-2714(82)90184-6
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:277 / 280
页数:4
相关论文
共 50 条