OPTOELECTRONIC FRINGE ENHANCEMENT IN HOLOGRAPHIC-INTERFEROMETRY

被引:0
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作者
IMAINO, W [1 ]
CRAWFORTH, L [1 ]
SINCERBOX, G [1 ]
机构
[1] IBM CORP,ALMADEN RES CTR,SAN JOSE,CA 95120
关键词
D O I
暂无
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
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