ERRORS IN THE MEASUREMENT OF FILM THICKNESS BY MULTIPLE-BEAM INTERFEROMETRY

被引:4
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作者
WEAVER, C
BENJAMIN, P
机构
关键词
D O I
10.1038/1821149b0
中图分类号
O [数理科学和化学]; P [天文学、地球科学]; Q [生物科学]; N [自然科学总论];
学科分类号
07 ; 0710 ; 09 ;
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页数:2
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