CHARGE CARRIER STATISTICS OF SEMICONDUCTORS CONTAINING DEFECTS WITH NEGATIVE ELECTRONIC CORRELATION-ENERGY

被引：30
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作者：
HOFFMANN, HJ
机构：
来源：
APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING | 1982年 / 27卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1007/BF01197545
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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