IMPROVEMENTS POSSIBLE IN TESTING STANDARDS FOR HIGH-VOLTAGE CIRCUIT-BREAKERS - HARMONIZATION OF ANSI AND IEC TESTING

被引:0
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作者
BERNERYD, SS
机构
关键词
D O I
10.1109/61.193975
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:1707 / 1713
页数:7
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