CONTACTLESS METHOD OF MEASURING CONDUCTIVITY FOR SEMICONDUCTORS IN STRONG SUPERHIGH FREQUENCY ELECTRIC FIELDS

被引：0
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作者：
DAVYDOV, AB
NOMEROVA.OM
机构：
来源：
INSTRUMENTS AND EXPERIMENTAL TECHNIQUES-USSR | 1966年 / 04期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页码：890 / &
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