BASIC THEORY OF PROBE-COMPENSATED NEAR-FIELD MEASUREMENTS

被引:195
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作者
PARIS, DT
LEACH, WM
JOY, EB
机构
关键词
D O I
10.1109/TAP.1978.1141855
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:373 / 379
页数:7
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