FEATURES OF THE C-U-CHECK OF IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTORS WITH LOW CHARGE CARRIER MOBILITY

被引:0
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作者
ZOTOV, LV
PETROVSKII, VI
机构
来源
INDUSTRIAL LABORATORY | 1990年 / 56卷 / 12期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
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页数:4
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