APPLICATION OF SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY IN THE STUDY OF SMALL-ANGLE BOUNDARIES IN CADMIUM SELENIDE AND CADMIUM-SULFIDE SINGLE-CRYSTALS

被引:0
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作者
GARNAK, AE
DRACHEV, VV
KHASHIMOV, FR
机构
来源
INDUSTRIAL LABORATORY | 1978年 / 44卷 / 09期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
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页数:2
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