NUMERICAL APPROACHES TO NONDESTRUCTIVE DEPTH PROFILING BY VARIABLE ANGLE X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY

被引:0
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作者
MCCASLIN, PC [1 ]
YOUNG, V [1 ]
机构
[1] UNIV FLORIDA,DEPT CHEM,GAINESVILLE,FL 32611
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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页码:1545 / 1556
页数:12
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