17TH ANNUAL RELIABILITY SYMPOSIUM, USA

被引：0
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作者：
JACOBS, RM
机构：
来源：
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1971年 / 10卷 / 03期
关键词：
D O I：
10.1016/0026-2714(71)90414-8
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：137 / &
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