A PHOTOELECTRONIC METHOD OF DETERMINING STRESSED STATE OF MODELS BY MEANS OF PHOTOELASTICITY UNDER DYNAMIC AND STATIC CONDITIONS

被引:0
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作者
KORTNEV, AV
RUBLEV, YV
SHILGORI.FA
TSESLER, BI
机构
来源
INDUSTRIAL LABORATORY | 1965年 / 31卷 / 09期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
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页码:1392 / &
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