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IC TESTER EVALUATES PROTOTYPE ASICS
被引:0
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作者
:
MILNE, B
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MILNE, B
机构
:
来源
:
ELECTRONIC DESIGN
|
1986年
/ 34卷
/ 17期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
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