NUCLEAR TEST ESTIMATES YIELD CRITICISM

被引:0
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作者
BACHE, TC [1 ]
ROMNEY, CF [1 ]
RYALL, AS [1 ]
机构
[1] SCI APPLICAT INT CORP, ARLINGTON, VA USA
关键词
D O I
10.1063/1.2811484
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
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页数:2
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