ETUDE DUN APPAREILLAGE DESTINE A LA MESURE DE LEFFET MAGNETO-ELECTRIQUE ENTRE 1,8 DEGREES K ET 330 DEGREES K

被引:8
|
作者
MERCIER, M
机构
来源
REVUE DE PHYSIQUE APPLIQUEE | 1967年 / 2卷 / 02期
关键词
D O I
10.1051/rphysap:0196700202010900
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
收藏
页码:109 / &
相关论文
共 41 条