BAYESIAN SHRINKAGE ESTIMATION OF RELIABILITY FROM CENSORED SAMPLE WITH EXPONENTIAL FAILURE MODEL

被引:0
|
作者
PANDEY, M [1 ]
UPADHYAY, SK [1 ]
机构
[1] BANARAS HINDU UNIV,FAC SCI,DEPT STAT,VARANASI 221005,UTTAR PRADESH,INDIA
关键词
D O I
暂无
中图分类号
O21 [概率论与数理统计]; C8 [统计学];
学科分类号
020208 ; 070103 ; 0714 ;
摘要
引用
收藏
页码:21 / 33
页数:13
相关论文
共 50 条