NEW TECHNIQUE FOR CHARACTERIZING DIFFRACTION BY INHOMOGENEOUSLY FILLED SLOT OF ARBITRARY CROSS-SECTION IN THICK CONDUCTING PLANE

被引：7
|
作者：
JIN, JM
VOLAKIS, JL
机构：
[1] Univ of Michigan, United States
来源：
ELECTRONICS LETTERS | 1989年 / 25卷 / 17期
关键词：
3;
D O I：
10.1049/el:19890753
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：1121 / 1123
页数：3
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