FAILURE TRACERS - REVIEW OF HOW RELIABILITY EXPERTS AND ANALYSTS PROBE FOR PRIMARY CAUSE OF DEVICE AND SYSTEMS FAULTS

被引：2

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作者：

ALLAN, R

机构：

来源：

IEEE SPECTRUM | 1976年 / 13卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1109/MSPEC.1976.6367546

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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页数：7

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