DETERMINATION OF POLYTYPE (6H-,15R-SIC AND 18R-SNSE2) AND ANALYSIS OF THE LONG-RANGE ORDER ALONG THE CIS-AXIS BY HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY

被引：0

|

作者：

KUWABARA, M ^{[1
]}

HASHIMOTO, H ^{[1
]}

ENDOH, H ^{[1
]}

NAKAKURA, Y ^{[1
]}

机构：

[1] OSAKA UNIV,DEPT APPL PHYS,SUITA,OSAKA 565,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1985年 / 34卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

收藏

页码：213 / 214

页数：2

相关论文

共 1 条

[1] THE HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY OF TWIN INTERFACES IN H-2 AND 18R MARTENSITES OF CU-AL ALLOYS
LOVEY, FC
VANTENDELOO, G
VANLANDUYT, J
AMELINCKX, S
SCRIPTA METALLURGICA, 1985, 19 (10): : 1223 - 1228